2010-№2(27) Статья 12

Зельцер И.А., Моос Е.Н.

Новые возможности метода стоячих рентгеновских волн в случае непрерывного комбинационного (рамановского) рассеяния резонансного рентгеновского излучения. С. 105-116

УДК 592:539. 2:537.533.2

Рассмотрены основные принципы, новые возможности и приборная реализация структурно-чувствительной спектроскопии поверхности конденсированных сред с помощью стоячих рентгеновских волн в случае регистрации эмиссии электронов под действием непрерывного резонансного комбинационного (рамановского) рассеяния рентгеновского излучения. Показано, что перспективы развития и применения новых возможностей метода стоячих рентгеновских волн для исследования поверхности связаны с созданием комплекса экспериментального оборудования и специализированных источников синхротронного излучения.

стоячие рентгеновские волны, фотоэлектронная эмиссия, дифракция, комбинационное (рамановское) рассеяние.

Библиография:

1. Афанасьев, А.М., Перегудов В.Н. [Текст] // Доклад АН СССР. – 1988. – Т. 301. – №5. – С. 1098.

2. Вудраф, Д. Современные методы исследования поверхности [Текст] / Д. Вудраф, Т. Делчар. – М.: Мир, 1989. – 568 с.

3. Гравшин, Ю.М. Дифракционный рентгеновский фотоэлектронный спектрометр [Текст] / Ю.М. Гравшин [и др.] // Электронная промышленность. – 1989. – Вып. 4. – С. 23–25.

4. Гравшин, Ю.М. Рентгеновский автоматизированный пьезогониометр, управляемый ЭВМ [Текст] / Ю.М. Гравшин [и др.] // Электронная промышленность. – 1989. – Вып. 4. – С. 25–27.

5. Жуковский, А.Н. Высокочувствительный рентгенофлюоресцентный анализ с полупроводниковыми детекторами [Текст] / А.Н. Жуковский, Г.А. Пшеничный, А.В. Мейер. – Л.: Наука, 1991. – 191 с.

6. Зельцер, И.А. Трехкристальная рентгеновская дифрактометрия в исследовании тонких кристаллических слоев [Текст] / И.А. Зельцер [и др.]. // Электронная промышленность. – 1982. – Вып. 10–11. – С. 63–67.

7. Зельцер, И.А. Дифракционный рентгеновский фотоэлектронный спектрометр [Текст]: материалы всероссийского симпозиума по эмиссионной электронике, 17–19 сентября 1996 г. / И.А. Зельцер, О.Н. Крютченко. – Рязань, 1996. – C. 188–200.

8. Зельцер, И.А. Новые возможности нанодиагностики структуры поверхности с помощью стоячих рентгеновских волн в условиях непрерывного резонансного комбинационного рассеяния рентгеновского излучения [Текст] / И.А. Зельцер, С.А. Кукушкин, Е.Н. Моос // Письма в ЖТФ. – 2008. – Т. 34. – Вып. 13. – С. 56–61.

9. Зигбан, К. Электронная спектроскопия [Текст] / К. Зигбан [и др.]. – М.: Мир, 1971. – 493 с.

10. Ковальчук, М.В. Рентгеновские стоячие волны – новый метод исследования структуры кристаллов [Текст] / М.В. Ковальчук, В.Г. Кон //УФН. – 1986. – Т. 149. – Вып. 1. – С. 69–103.

11. Ковальчук, М.В. Вакуумная приставка для исследования структуры поверхностных слоев полупроводников методом стоячих рентгеновских волн в случае фотоэлектронной эмиссии [Текст] / М.В. Ковальчук, Ю.Н. Шилин // Электронная техника. – Серия 6: Материалы. – 1985. – Вып. 3 (202). – С. 38–41.

12. Ковальчук, М.В. Дифракционный вакуумный рентгенофотоэлектронный спектрометр [Текст] / М.В. Ковальчук[и др.] // ПТЭ. – 1987. – Т. 3. – С. 191–195.

13. Cullie J., Sparks C.J. [Text] // Phys. Rev. Lett. – 1974. – Vol. 33. – P. 262.

14. Durbin, S.M. Measurement of the silicon (111) Surface Contraction [Text] / S.M. Durbin [et al.] // Phys. Rev. Lett. – 1985. – Vol. 56. – № 3. – P. 236–239.

15. Durbin, S.M. X-ray standing – wave determination of Surface structure: Au in Si (111) [Text] / S.M. Durbin [et al.] // Phys. Rev. B. – 1986. – Vol. 33. – № 6. – P. 4402–4405.

16. Eisenberger P., Platrman P., Winick H. [Text] // Phys. Rev. Lett. – 1976. – Vol. 36. – P. 623.

17. Kodre A.F., Shafroth S.M. [Text]// Phys. Rev. A. – 1979. – Vol. 19. – № 2. – P. 675.

18. Sparks C.J. [Text] // Congress conf. organized by the Comission on crystallography apparatus of the Intern union of crystallography and held. – 1976, 22–26 April. – P. 175.